隨著工業(yè)生產自動化水平的提升以及生產流程安全高效運行要求不斷提高，行業(yè)對各類材料以及零部件的成分檢測提出了更高的要求。易諾科技奧林巴斯提供一系列基于X射線表征材料的儀器，可使客戶在需要時隨時隨地進行檢測分析。
X射線衍射（XRD）分析儀BTX III XRD是一款機身小巧的臺式分析儀，可以為用戶提供礦物主要成分和次要成分的可靠的定量性礦物學信息。這款分析儀將性能強大的軟件和改進的X射線探測器結合在一起使用，提高了檢測的速度和靈敏度。
BTX III臺式XRD分析儀
同樣在檢測分析方面有著出色表現(xiàn)的VANTA Element-S手持式X射線熒光（XRF）分析儀，吸引了眾多專業(yè)人士的咨詢、體驗。在對材料進行分揀的過程中，龐大的數(shù)據(jù)量以及雜亂的材料常常導致檢測的開展十分緩慢。VANTA Element-S分析儀配備硅漂移探測器（SDD），可對元素進行分析，并在幾秒內對合金進行牌號辨別和分揀，能夠快速有效地測量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量。